基于微控制器的邏輯芯片檢測(cè)儀設(shè)計(jì)
所屬分類(lèi):技術(shù)論文
上傳者:renlianlei
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文檔介紹:本文針對(duì)當(dāng)今市場(chǎng)上較常見(jiàn)的數(shù)字邏輯芯片產(chǎn)品品種繁多,型號(hào)雜亂,且沒(méi)有專(zhuān)用的檢測(cè)設(shè)備對(duì)芯片好壞進(jìn)行檢測(cè)的實(shí)際狀況,設(shè)計(jì)了一種基于微控制器的數(shù)字邏輯芯片檢測(cè)儀,首先以單片機(jī)AT89S52作為控制處理器,根據(jù)各類(lèi)型芯片的邏輯功能情況,做成一系列芯片庫(kù)文件,然后通過(guò)計(jì)算機(jī)界面對(duì)微控制器進(jìn)行控制,分別將檢測(cè)結(jié)構(gòu)顯示在計(jì)算機(jī)界面及LCD上。整個(gè)系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,占用資源少,靈活性高,可根據(jù)不同系列的邏輯芯片
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